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E+H物位計FMB52-AA21JD1HGB15AGJB3A德國原廠
物位計、液位計與料位三者的區(qū)別物位計、液位計與料位三者的區(qū)別 物位測量通常 指對工業(yè)生產(chǎn)過程中封閉式或敞開容器中物料(固體或液位)的高度進行檢測;如果是對 物料高度進行連續(xù)的檢測,稱為連續(xù)測量。如果只對物料高度是否到達(dá)某一位置進行檢 測稱為限位測量。 料位計是指對容器中固體物料高度的
雷達(dá)物位計是以高頻微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收，雷達(dá)波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號，也是一種特殊的時間延伸方法可以確保穩(wěn)定和的測量。雷達(dá)物位計具備優(yōu)勢，當(dāng)出現(xiàn)工況比較復(fù)雜的情況，會存在虛假回波，用的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的識別出物位的回波。
一、磁翻板液位計
液位計根據(jù)浮力原理和磁性耦合作用研制而成。當(dāng)被測容器中的液位升降時，液位計本體管中的磁性浮子也隨之升降，浮子內(nèi)的磁鋼通過磁耦合傳遞到磁翻柱指示器，驅(qū)動紅、白翻柱翻轉(zhuǎn)，當(dāng)液位上升時翻柱由白色轉(zhuǎn)變?yōu)榧t色，當(dāng)液位下降時 翻柱由紅色轉(zhuǎn)變?yōu)榘咨甘酒鞯募t白交界處為容器內(nèi)部液位的實 際高度，從而實現(xiàn)液位清晰的指示。
結(jié)構(gòu)用工作原理 :
側(cè)裝式磁翻板液位計二引管連接法蘭（5）分別與容器引管法蘭連接，主導(dǎo)管（2）內(nèi)有一磁性浮子（6），該浮子根據(jù)被測介質(zhì)比重設(shè)計,當(dāng)液體介質(zhì)進入主導(dǎo)管內(nèi)時，磁性浮子可隨容器內(nèi)介質(zhì)變化上下浮動。顯示部分為一列帶磁性的紅白二色小球（7），裝于支架上，可上下翻動，外有有機玻璃板保護，由抱箍（3）固定在主導(dǎo)管外，并緊貼主導(dǎo)管。當(dāng)液體上升時，浮子上移，小球翻成紅色，反之，小球變成白色，紅白球分界處即為介質(zhì)液位，同時在面板（8）標(biāo)尺上讀得液位高度。主導(dǎo)管底部有法蘭（9）及排污閥（10）供安裝浮子、調(diào)試及清洗用。頂部裝有絲堵（11），供清洗等用途用。
二、雷達(dá)液位計
雷達(dá)液位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達(dá)波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和的測量。
即使工況比較復(fù)雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術(shù)和調(diào)試軟件也可以準(zhǔn)確的分析出物位的回波。
輸入
天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達(dá)到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比：
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動使儀表適應(yīng)測量環(huán)境。對應(yīng)于4－20mA輸出。
應(yīng)用介質(zhì)：
l SKD系列智能雷達(dá)物位計適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發(fā)存在的場合。
l 采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。
安裝說明
l 推薦距離（1）墻至安裝短管的外壁：
離罐壁為罐直徑1/6處，最小距離為200mm。l
不能安裝在入料口的上方（4）。l
l 不能安裝在中心位置（3），如果安裝在中央，會產(chǎn)生多重虛假回波，干擾回波會導(dǎo)致信號丟失。
l 如果不能保持儀表與罐壁的距離，罐壁上的介質(zhì)會黏附造成虛假回波，在調(diào)試儀表的時候應(yīng)該進行虛假回波存儲。
測量條件
注意事項
l 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當(dāng)物位低于此點時無法進行測量。
l 若介質(zhì)為低介電常數(shù)當(dāng)其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。
l 理論上測量達(dá)到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應(yīng)距離天線的至少100mm。
l 對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。
最小測量范圍與天線有關(guān)。l
l 隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
三、磁致伸縮液位計
液位變送器由三個主要部分組成。外管部分是耐腐蝕，耐工業(yè)惡劣環(huán)境的產(chǎn)品材料。變送器的核心部分是最內(nèi)核的波導(dǎo)管，它是由一定的磁致伸縮物質(zhì)構(gòu)成。變送器的電子部分產(chǎn)生一個低電流的詢問脈沖，該脈沖同時產(chǎn)生一個磁場，并沿波導(dǎo)管向下傳播。當(dāng)該磁場和波導(dǎo)管上的浮子內(nèi)的永磁體所產(chǎn)生的磁場相交時，就會產(chǎn)生一個應(yīng)變脈沖，或叫波導(dǎo)扭曲。應(yīng)變脈沖沿波導(dǎo)管返回并被電子單元所接收，通過測量詢問脈沖和返回脈沖之間的時間間隔，可獲得高精度、高重復(fù)性的液位值。
四、超聲波液位計
超聲波液位計的工作原理是由換能器（探頭）發(fā)出高頻超聲波脈沖遇到被測介質(zhì)有關(guān)。表面被反射回來，部分反射回波被同一換能器接收，轉(zhuǎn)換成電信號。超聲波脈沖以聲波速度傳播，從發(fā)射到接收到超聲波脈沖所需時間間隔與換能器到被測介質(zhì)表面的距離成正比。此距離值S與聲速C和傳輸時間T之間的關(guān)系可以用公式表示：S=C×T/2
由于發(fā)射的超聲波脈沖有一定的寬度，使得距離換能器較近的小段區(qū)域內(nèi)的反射波與發(fā)射波重迭，無法識別，不能測量其距離值。這個區(qū)域稱為測量盲區(qū)。盲區(qū)的大小與超聲波物位計的型號有關(guān)。
五、電容液位計
電容式液位計是采用測量電容的變化來測量液面的高低的。它是一根金屬棒插入盛液容器內(nèi)，金屬棒作為電容的一個極，容器壁作為電容的另一極。
兩電極間的介質(zhì)即為液體及其上面的氣體。由于液體的介電常數(shù)ε1和液面上的介電常數(shù)ε2不同，比如：ε1>ε2，則當(dāng)液位升高時，兩電極間總的介電常數(shù)值隨之加大因而電容量增大。反之當(dāng)液位下降，ε值減小，電容量也減小。
所以，可通過兩電極間的電容量的變化來測量液位的高低。電容液位計的靈敏度主要取決于兩種介電常數(shù)的差值，而且，只有ε1和ε2的恒定才能保證液位測量準(zhǔn)確，因被測介質(zhì)具有導(dǎo)電性，所以金屬棒電極都有絕緣層覆蓋。電容液位計體積小，容易實現(xiàn)遠(yuǎn)傳和調(diào)節(jié)，適用于具有腐蝕性和高壓的介質(zhì)的液位測量。
六、導(dǎo)納液位計
射頻導(dǎo)納式物位控制器是利用高頻技術(shù)，由電子線路產(chǎn)生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數(shù)引起的信號變化反饋給電子線路于這些變化包括電容量和電導(dǎo)量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號,采用相位檢測技術(shù)將這種變化檢測出來，進行處理后繼電器的輸出。它是在原電容測量的基礎(chǔ)上改進為射頻導(dǎo)納測量技術(shù)，代表了當(dāng)今物位測量的新水平。常用有標(biāo)準(zhǔn)型、重型探頭型、耐高溫用陶瓷探頭型、堵料開關(guān)、堵煤開關(guān)等等。
七、射線液位計
輻射法：放射性同位素在衰變過程中會輻射射線，常見的射線有α、β、γ射線。其中，γ射線的穿透力強，射程遠(yuǎn)，故在核輻射液位測量中廣泛采用。實驗證明，穿過物質(zhì)前后γ射線強度會發(fā)生變化，并滿足以下關(guān)系［5］：
上式中：J0－穿過物質(zhì)前的強度；J－穿透物質(zhì)后的強度；μ－物質(zhì)對γ射線的衰減特性；d－物質(zhì)的厚度。核輻射式液位儀由放射源、探測器及處理電路組成。放射源大都采用鈷－60或銫－137。探測器有電離室、記數(shù)管、閃爍計數(shù)器等幾種，其作用是探測射線穿透物質(zhì)后的強度。核輻射液位儀采用非接觸式安裝，如圖6—3所示。圖6—3a采用點式放射源、探測器，測量范圍較小；圖6—3b采用點式放射源、線狀探測器，測量范圍較大；圖6—3c采用線狀放射源、探測器，測量范圍最大。除γ射線外，中子射線也可用來測量液位。中子射線的穿透能力*，比γ射線強10倍以上，可穿透壁厚達(dá)9英寸的鋼質(zhì)容器［10］。射線液位儀安裝方便，測量精度能滿足大罐測量的需要，有一定的應(yīng)用場合。
八、射頻導(dǎo)納工作原理
射頻導(dǎo)納物位控制技術(shù)是一種從電容式物位控制技術(shù)發(fā)展起來的，防掛料、更可靠、更準(zhǔn)確、適用性更廣的物位控制技術(shù)，“射頻導(dǎo)納”中“導(dǎo)納”的含義為電學(xué)中阻抗的倒數(shù)，它由阻性成分、容性成分、感性成分綜合而成，而“射頻”即高頻，所以射頻導(dǎo)納技術(shù)可以理解為用高頻測量導(dǎo)納。高頻正弦振蕩器輸出一個穩(wěn)定的測量信號源，利用電橋原理，以測量安裝在待測容器中的傳感器上的導(dǎo)納，在直接作用模式下，儀表的輸出隨物位的升高而增加。
射頻導(dǎo)納技術(shù)與傳統(tǒng)電容技術(shù)的區(qū)別在于測量參量的多樣性、驅(qū)動三端屏蔽技術(shù)和增加的兩個重要的電路，這些是根據(jù)在實踐中的寶貴經(jīng)驗改進而成的。上述技術(shù)不但解決了連接電纜屏蔽和溫漂問題，也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問題。所增加的兩個電路是高精度振蕩器驅(qū)動器和交流鑒相采樣器。
對一個強導(dǎo)電性物料的容器，由于物料是導(dǎo)電的，接地點可以被認(rèn)為在探頭絕緣層的表面，對變送器探頭來說僅表現(xiàn)為一個純電容，隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復(fù)阻抗，從而引起兩個問題。
射頻導(dǎo)納技術(shù)由于引入了除電容以外的測量參量，尤其是電阻參量，使得儀表測量信號信噪比上升，大幅度地提高了儀表的分辨力、準(zhǔn)確性和可靠性;測量參量的多樣性也有力地拓展了儀表的可靠應(yīng)用領(lǐng)域。
個問題是物料本身對探頭相當(dāng)于一個電容，它不消耗變送器的能量，(純電容不耗能)，但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導(dǎo)致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個驅(qū)動器，使消耗的能量得到補充，因而會穩(wěn)定加在探頭的振蕩電壓。
第二個問題是對于導(dǎo)電物料，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個物料及掛料區(qū)，使有效測量電容擴展到掛料的頂端，這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導(dǎo)電性越強誤差越大。但任何物料都不*導(dǎo)電的。從電學(xué)角度來看，掛料層相當(dāng)于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當(dāng)于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學(xué)理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗和容抗數(shù)值相等，因此用交流鑒相采樣器可以分別測量電容和電阻。測得的總電容相當(dāng)于C物位+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以獲得物位真實值，從而排除掛料的影
響。即
C測量＝C物位＋C掛料
C物位＝C測量-C掛料＝C測量-R
這些多參量的測量，是測量的基礎(chǔ)，交流鑒相采樣器是實現(xiàn)的手段。由于使用了上述三項技術(shù)，使得射頻導(dǎo)納技術(shù)在現(xiàn)場應(yīng)用中展現(xiàn)出非凡的生命力。
E+H物位計FMB52-AA21JD1HGB15AGJB3A德國原廠
FMB52-AA21JA1HGB15GGJB2A+AK
FMB52-BA21JD1HGD15CEJB3A+AKF1
FMB52-CD21JA1HGK35CFJB2AAA
FMB52-8281/0
FMB52-AA21JA1HGD15CFJB2J+AKF1
FMB52-AA21RC1HGD15GGJB2U+AK
FMB52-AA21RA1FGD15GGJB3A+AK
FMB52-AA21JA1HGD15GGJB2A+AKMB
FMB52-3CW0/0
FMB52-AA21JA1HGA15CEJB3J
FMB52-BA22ID1HGC15RGJB2A
FMB52-AA21JA1HGD15GGJB2
FMB52-APT1/0
FMB52-9460/0
FMB52-AA22IA1FGA35GGJB2U+HC
E+H CLS50-A5A2
E+H CPS12-OPA2ESA
E+H CPK1-00A
E+H CPS11D-7BA2G
E+H CYK10-G051
E+H CPA250-A00
E+H CM42-MGA001EAZ00
E+H CYA611-0A
E+H COM253-DX0110
E+H CLM223-IS0005
E+H CPM253-PR0110
E+H CPS11-1AS2GSA
E+H COS41-2F
E+H CLM223-IS0005
E+H COM253-DX0110
E+H CUS41-W4
E+H CUS41-W2
E+H CUM253-TU0005
E+H CPS71-2BC2ESA
E+H CLM223-IS0005
E+H CPS11-2AA5ESA
E+H CPA111-30B
E+H CLM223-CD8005
E+H CPM223-PR8005
E+H CPS11-2FA2ESA
E+H CYK10-A051
E+H CPS11-2AS2ESA
E+H COM253-DX0005
E+H CM42-PAA000EAZ00
E+H CUM750-2E0AA
E+H CUS70-1A1A
E+H CPF81-LH31C2
E+H CPF81-NN11C3
E+H CUM253-TU001
E+H CUA451-B1C
E+H CPR30-00
E+H CPM223-PR0105
E+H CPK9-NFA1A 90M
E+H CPK9-NFA1A 100M
E+H CPK9-NFA1A 50M
E+H CLD132-PMV138AA1
E+H CPS91-2BO2ESA
E+H 51506784
E+H CPS11D-7BA2G
E+H CLM223-CD8010
E+H CLS12-B1D1A
E+H CLS13-B1D5A
E+H CPS11D-7AA21
E+H CPM253-PR8005
E+H CPS41-2AB2ESS
E+H CPS11D-7AA41
E+H CPM253-PR0015
E+H CPS11-2BA2ESA
E+H CPS9-NEZ1A
E+H CLD132-PMV158AA1
E+H CCS140-N
E+H CPS31-1EC2GSA
E+H cls19-a1a1a
E+H CLS50-A1A3
E+H CLM253-ID8105
E+H CUS41-A2
E+H RPS20-ABF3A1A
E+H CPA640-C111
E+H CPA640-A211
E+H CYK10-A101
E+H CPS91D-7BO21
E+H CM42-MAA000EAE00
E+H COS31-A2F1
E+H COS31-A2S1
E+H CPS41-2BC4ESA
E+H CPS11-2BA2ESA
E+H CPS11-2AA2ESA
E+H CPK9-NDA1A
E+H CPM253-PR0105
E+H CSS70-B2C4A
E+H CLD132-WMV130AA1
E+H CUS41-A2
E+H CUM253-TU0105
E+H CSS70-B2D4A
E+H CSM750-7A1A
E+H COS61-A1F0
E+H COS41-4S
E+H 52026443
E+H 51506976
E+H 51506784
E+H 51501228
E+H CM42-MGA102EAD00
E+H CLS50-A1A1
E+H CLM253-IS0005
E+H CLS21-C1N3A
E+H CM42-MAA000EAE00
E+H CPS91D-7BO21
E+H CYK10-A101
E+H CPA640-A211
E+H CLD132-PMV110AB1
靜壓液位計、密度控制器、一體化伽瑪測量儀表
FMB53-AA21JA1CDA15B2A FMB53-AA31JA1FDB15B3J FMB53-AA41JA1CDD25B2U FMB53-AA22JA1FGC25B3U
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FMB53-AA21RD1HDF15N3A FMB53-AA31RD1MDA15N2J FMB53-AA41RD1PDB25N3U FMB53-AA22RD1HGC25N2U
FMB53-AA32RI1MGD35N3J FMB53-AA42SI1PGE25B2A
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